Kontaktieren Sie uns Wie können wir Sie unterstützen? Laser-info@pvatepla.comUnsere Anlagen zur Analyse von EigenspannungszuständenSIRD Stressmessung SIRD (Scanning InfraRed…
Semiconductor Packaging Vereinzelung der auf dem Wafer befindlichen Komponenten; Verpackung in die verschiedensten Gehäuseformen Hohe Bedeutung der Haftung von den verwendeten Kunststoffen …
SIRD Stressmessung SIRD (Scanning InfraRed Depolarization) System ist ein so genanntes Transmissions-Dunkelfeld-Polariskop. Bei seiner Nutzung durchstrahlt ein fest positionierter, linear…
Eigenspannungszustände sind „Fingerabdrücke“, die Einblick in die Entstehung oder den Einsatz eines Materials oder Bauelementes geben. Ihre Analyse ist erforderlich, um z. B. an…
Auftragsmessung Das Jenaer Applikationslabor führt auf Kundenwunsch Messungen an Wafern und Bauelementestrukturen verschiedener Materialien (Si, GaAs, GaN, SiC, InP etc.) durch. Dabei…
Das Jenaer Applikationslabor führt auf Kundenwunsch Messungen an Wafern und Bauelementestrukturen verschiedener Materialien (Si, GaAs, GaN, SiC, InP etc.) durch. Dabei erarbeiten wir individuelle…
