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  • 1. Metrologie Systeme Laser  
    Kontaktieren Sie uns Wie können wir Sie unterstützen? laser.mps@pvatepla.comUnsere Anlagen zur Analyse von EigenspannungszuständenSIRD Stressmessung SIRD (Scanning InfraRed Depolarization)…  
  • 2. Metrologie Systeme Laser  
     
  • 3. Metrologie Systeme VPD  
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  • 4. Metrologie Systeme VPD - WSPS (Wafer Surface Preparation System)  
    WSPS (Wafer Surface Preparation System) Das WSPS System bildet die gesamte VPD-Prozesskette ab, in dem die Prozesse bzw. Module in einem kompakten mit FFU-Einheiten bestückten Systemgehäuse durch…  
  • 5. Zertifizierung  
    ZertifizierungHier können Sie das aktuelle Dokument zur Zertifizierung nach ISO 9001:2015 herunterladen.  
  • 6. PVA MPS  
    Aktuelles Termine und Messen alle Meldungen anzeigenSemiconductor Packaging Vereinzelung der auf dem Wafer befindlichen Komponenten; Verpackung in die verschiedensten Gehäuseformen Hohe…  
  • 7. Applikationsunterstützung  
    Applikationsunterstützung Wir haben die neuesten Versionen unserer Plasmasysteme in unseren Anwendungslabors in Wettenberg nahe Frankfurt/M. und Jena bzw. in Corona, Kalifornien, USA, installiert.…  
  • 8. Auftragsmessung  
    Auftragsmessung Das Jenaer Applikationslabor führt auf Kundenwunsch Messungen an Wafern und Bauelementestrukturen verschiedener Materialien (Si, GaAs, GaN, SiC, InP etc.) durch. Dabei…  
  • 9. Glossar  
    Bei der Herstellung dreidimensionaler Strukturen werden sogenannte Opferschichten genutzt, die während der Entstehung der Elemente als Stützgerüst fungieren. Nach der Fertigstellung der…  
  • 10. Über PVA TePla MPS  
    Über PVA MPS PVA Metrology & Plasma Solutions – die Anwendungsexperten für neue Technologien bei der Herstellung von Halbleiter-Bauelementen. Unsere Kernkompetenz ist das Verstehen der…  

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